ہم فوٹوولٹک (PV) ماڈیولز میں مائیکرو کریکس کا پتہ کیسے لگاتے ہیں؟

فوٹو وولٹک میں مائکرو کریکس کا پتہ لگانا(PV) ماڈیولزبنیادی طور پر ماڈیولز کی ظاہری شکل، برقی کارکردگی، اور ساختی سالمیت پر مبنی ہے، اور مختلف طریقوں سے اس کا جامع اندازہ لگایا جا سکتا ہے۔ یہاں کچھ عام طور پر استعمال ہونے والے پتہ لگانے کے طریقے ہیں:

بصری معائنہ:

سب سے پہلے، PV ماڈیول کا بصری طور پر معائنہ کریں کہ آیا ماڈیول کی سطح پر کوئی واضح نقصانات، خروںچ، دراڑیں وغیرہ موجود ہیں۔

مائیکرو کریکس کے مشتبہ علاقوں کے لئے یا دیگر اوزاروں کو قریبی مشاہدے کے لئے استعمال کیا جانا چاہئے تاکہ مائکرو کریکس کی موجودگی کی تصدیق کی جاسکے۔

اگرچہ یہ طریقہ سیدھا ہے، لیکن یہ صرف زیادہ دکھائی دینے والی شگافوں کا پتہ لگا سکتا ہے اور ہو سکتا ہے کہ براہ راست خوردبینی مائیکرو کریکس کا مشاہدہ نہ کرے۔

برقی کارکردگی کی جانچ:

پی وی ماڈیول کے برقی کارکردگی کے پیرامیٹرز کی پیمائش کریں، جیسے اوپن سرکٹ وولٹیج، شارٹ سرکٹ کرنٹ، زیادہ سے زیادہ پاور پوائنٹ وولٹیج، اور کرنٹ، یہ معلوم کرنے کے لیے کہ آیا کارکردگی میں کوئی بے ضابطگی ہے۔

مائیکرو کریکس ماڈیول کی اندرونی مزاحمت کو بڑھا سکتے ہیں، اس طرح اس کی برقی کارکردگی متاثر ہوتی ہے۔

یہ طریقہ بالواسطہ طور پر ماڈیول میں مائیکرو کریکس کی موجودگی کا اندازہ لگا سکتا ہے لیکن دوسرے طریقوں سے تصدیق کی ضرورت ہے۔

انفراریڈ تھرموگرافی:

پی وی ماڈیول کو اسکین کرنے اور اس کے درجہ حرارت کی تقسیم کا مشاہدہ کرنے کے لیے انفراریڈ تھرموگرافی ٹیکنالوجی کا استعمال کریں۔

مائکرو کریکس ماڈیول کے اندر حرارت کی ترسیل کو روک سکتے ہیں، جس کے نتیجے میں انفراریڈ تھرمل امیج پر درجہ حرارت کی غیر معمولی تقسیم کے پیٹرن ہوتے ہیں۔

عام اور مشتبہ مائکرو کریک ماڈیولز کی انفراریڈ تھرمل امیجز کا موازنہ اور تجزیہ کرکے، مائیکرو کریکس کی موجودگی کا تعین کیا جا سکتا ہے۔

الیکٹرولومینیسینس (EL) ٹیسٹنگ:

EL ٹیسٹنگ PV ماڈیولز میں اندرونی نقائص کا پتہ لگانے کے لیے ایک موثر اور درست طریقہ ہے۔

ماڈیول پر ایک مخصوص وولٹیج لگانے سے، خراب علاقوں میں روشنی کا اخراج ہوتا ہے، جس سے ماڈیول کے اندر مائکرو کریکس، نجاست اور دیگر نقائص کا پتہ چل جاتا ہے۔

EL ٹیسٹنگ اعلی حساسیت، تیز رفتار پتہ لگانے کی رفتار، اور بدیہی نتائج کا حامل ہے، یہ PV ماڈیولز میں مائیکرو کریکس کا پتہ لگانے کا ایک اہم طریقہ ہے۔

الٹراسونک ٹیسٹنگ:

الٹراسونک ٹیسٹنگ ایک غیر تباہ کن طریقہ ہے جس میں PV ماڈیول میں الٹراسونک لہروں کا اخراج اور مائکرو کریکس کا پتہ لگانے کے لیے ان کی عکاسی اور پھیلاؤ کی خصوصیات کو استعمال کرنا شامل ہے۔

یہ طریقہ ننگی آنکھ سے پوشیدہ شگافوں کا پتہ لگا سکتا ہے لیکن چھوٹے مائیکرو کریکس کے لیے اس کی حدود ہو سکتی ہیں۔

عملی ایپلی کیشنز میں، مخصوص حالات کی بنیاد پر پتہ لگانے کے مناسب طریقے منتخب کیے جا سکتے ہیں، یا ماڈیول میں مائیکرو کریکس کی موجودگی کا جامع تعین کرنے کے لیے متعدد طریقوں کو ملایا جا سکتا ہے۔ مزید برآں، PV ماڈیولز میں مائیکرو کریک کا پتہ لگانے کی کارکردگی اور درستگی کو بڑھانے کے لیے، پتہ لگانے کے عمل میں مدد کے لیے خودکار پتہ لگانے والے آلات اور ذہین تجزیے کے نظام کو استعمال کیا جا سکتا ہے۔

یہ نوٹ کرنا ضروری ہے کہ ایک بار جب مائیکرو کریکس دریافت ہو جاتے ہیں۔پی وی ماڈیولزجس کے تدارک کے لیے فوری اقدامات کیے جائیں۔ ماڈیول کی کارکردگی پر کم سے کم اثر کے ساتھ معمولی مائکرو کریکس کے لیے، مشاہدہ اور ٹریکنگ کافی ہو سکتی ہے۔ تاہم، ماڈیول کی کارکردگی کو نمایاں طور پر متاثر کرنے والے شدید مائیکرو کریکس کے لیے، فوری تبدیلی یا مرمت کی سفارش کی جاتی ہے۔ مزید برآں، پی وی سسٹمز کے معمول کے معائنے اور دیکھ بھال کو بڑھانا، نیز پی وی ماڈیولز کی تنصیب کے معیار کو بہتر بنانا، مائیکرو کریک کے مسائل کی موجودگی کو کم کرنے کے لیے موثر اقدامات ہیں۔